鐵電體陶瓷電容器的容量和介質(zhì)損耗會(huì)展現(xiàn)出隨時(shí)間延長(zhǎng)而衰減的趨勢(shì)。這種被稱為老化的現(xiàn)象是可逆的，其產(chǎn)生的原因在于鐵電體晶體結(jié)構(gòu)隨溫度而變化。

  鐵電介質(zhì)以鈦酸鋇(BaTiO₃)為主要成分，加入一定的氧化物以改變材料晶體慣態(tài)和對(duì)稱性，產(chǎn)生出鐵電疇。在居里點(diǎn)(120℃)附近，BaTiO₃晶體結(jié)構(gòu)由四方相轉(zhuǎn)變?yōu)榱⒎较?，自發(fā)極化不再發(fā)生。而當(dāng)冷卻通過(guò)居里點(diǎn)時(shí)，材料晶體結(jié)構(gòu)又重新由立方相轉(zhuǎn)變?yōu)樗姆较?，其點(diǎn)陣結(jié)構(gòu)中不存在對(duì)稱中心。Ti⁴⁺離子可以占據(jù)兩個(gè)非對(duì)稱位置中的一個(gè)，從而導(dǎo)致永久性電偶極。由于相鄰晶胞相互作用的影響足以建立起極化疇，因此這些電偶極是自發(fā)產(chǎn)生和略微有序的。平行極化疇是隨機(jī)取向的(在沒(méi)有外加電場(chǎng)作用的情況下)，給系統(tǒng)提供應(yīng)變能。而應(yīng)變能的松弛正是材料介電常數(shù)老化的原因，具有下列時(shí)間關(guān)系：

  K = K₀-m log t

  這里

  K = 任意時(shí)間t處的介電常數(shù)

  K₀ = 時(shí)間t₀(_t0 < t)處的介電常數(shù)

  m = 衰減速率

  上面公式是對(duì)數(shù)關(guān)系，如果采用半對(duì)數(shù)圖處理所得數(shù)據(jù)，其結(jié)果將會(huì)近似于一條直線，正如下圖所示。每十倍時(shí)內(nèi)K(或電容量)變化的百分?jǐn)?shù)可以通過(guò)計(jì)算得出，用做衡量瓷料優(yōu)劣的一個(gè)指標(biāo)。

  與微觀結(jié)構(gòu)有關(guān)，進(jìn)而對(duì)極化產(chǎn)生影響的的因素(材料純度、晶粒尺寸、燒結(jié)情況、晶界、空隙率，內(nèi)應(yīng)力)同樣也決定了疇壁移動(dòng)和重新取向的自由程度。

  例 (a) 老化速率 = -5% / 5 十倍時(shí) = 1.0% / 十倍時(shí)(小時(shí))

  例 (b) 老化速率 = -15% / 6 十倍時(shí) = 2.5% / 十倍時(shí)(小時(shí))

  由此可知，材料老化的速率與材料組分和工藝過(guò)程密切相關(guān)，同時(shí)對(duì)那些影響材料介電常數(shù)的因素也非常敏感。

  鐵電體,例如X7R，容量的時(shí)間損耗是不可避免的，盡管通過(guò)把介質(zhì)加熱到居里點(diǎn)以上，使材料晶體結(jié)構(gòu)變回“順電”立方態(tài)的方法可以得到恢復(fù)。但一旦冷卻下來(lái)，材料晶體結(jié)構(gòu)再次轉(zhuǎn)變?yōu)樗姆较啵园l(fā)極化再次出現(xiàn)，產(chǎn)生的新極化疇使得老化過(guò)程重新開(kāi)始。

  順電體，例如COG，中由于不存在自發(fā)極化的機(jī)制，因此觀察不到老化現(xiàn)象。老化速率受電容器“電壓狀態(tài)”的影響。元件在高溫(低于居里溫度)直流偏壓負(fù)荷試驗(yàn)中表現(xiàn)出了容量損耗，但老化速率很低。從理論上講，高溫下的電壓負(fù)荷會(huì)促進(jìn)極化疇的弛豫。當(dāng)然，如果實(shí)際溫度超過(guò)了居里點(diǎn)，電壓效應(yīng)則會(huì)消失。

  電容器廠家往往通過(guò)調(diào)整測(cè)量時(shí)的限定值來(lái)補(bǔ)償鐵電介質(zhì)的容量損耗，這樣元件在長(zhǎng)時(shí)間使用后也不至于因老化而超出公差范圍。例如，對(duì)于老化速率為1.5% / 十倍時(shí)的介質(zhì)材料，測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)需提高到3%，即兩個(gè)十倍時(shí)。被長(zhǎng)時(shí)間置于居里溫度點(diǎn)之后又通過(guò)100小時(shí)測(cè)試的元件仍可以保證再經(jīng)過(guò)兩個(gè)十倍時(shí)，或者說(shuō)10000小時(shí)，都不會(huì)超出公差范圍。